BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 LS系列激光粒度分析仪
- 简介：产品介绍 BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。 基本
产品详细
基本性能指标
粒径检测
| 原理 |
动态光散射技术 |
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粒径范围 |
0.3 nm – 15 μm |
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样品量 |
3 μL – 1 mL |
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检测角度 |
90 ° + 12° |
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分析算法 |
Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta电位测试
| 原理 |
相位分析光散射技术 |
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检测角度 |
12° |
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Zeta范围 |
无实际限制 |
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电泳迁移率范围 |
＞±20 μ.cm/V.s |
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电导率范围 |
0 - 260 mS/cm |
| Zeta测试粒径范围 |
2 nm – 110 μm |
分子量测试
| 分子量范围 |
342 Da – 2 x 107 Da |
微流变测试
| 频率范围 |
0.2 – 1.3 x 107 rad/s |
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测试能力 |
均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量 |
折光率和粘度测试
| 粘度范围 |
0.01 cp – 100 cp |
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折光率范围 |
1.3-1.6 |
趋势测试
| 时间和温度 |
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系统参数
| 温控范围 |
-15°C - 110°C |
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冷凝控制 |
干燥空气或者氮气 |
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标准激光光源 |
50 mW 高性能固体激光器， 671 nm |
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相关器 |
最快25 ns采样，最多 4000通道，1011动态线性范围 |
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检测器 |
APD （高性能雪崩光电二极管） |
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光强控制 |
0.0001% - 100%，手动或者自动 |
软件
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中文和英文 |
符合21CFR Part 11 |
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