专注于颗粒表征分析仪器研发生产主营激光粒度分析仪、纳米粒度仪
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LT2200激光粒度分析仪
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LT2200激光粒度分析仪

LT2200 激光粒度分析仪

LT2200加持了以下多项创新和专利技术: 偏振滤波技术 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术 斜入射反傅里叶光路配置 格栅式大角度检测阵列技术 粒度分析模式优化及自适应技术 连续液位感知及控制技术 高灵敏度光能跟踪及稳定技术 LT2200光学测量系统的卓越性能还包括: 完全符合ISO13320衍射法测量技术标准 独特的光路配置,超大连续的物理测量角度 改进型

 
LT2200加持了以下多项创新和专利技术:
 
 
 
◆ 偏振滤波技术
 
◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术
 
◆ 斜入射反傅里叶光路配置
 
◆ 格栅式大角度检测阵列技术
 
◆ 粒度分析模式优化及自适应技术
 
◆ 连续液位感知及控制技术
 
◆ 高灵敏度光能跟踪及稳定技术
 
 
 
LT2200光学测量系统的卓越性能还包括:
 
◆ 完全符合ISO13320衍射法测量技术标准
 
◆ 独特的光路配置,超大连续的物理测量角度
◆ 改进型反演算法,用户无需选择“分析模式”,兼顾极高的分辨率和稳定性
◆ 无需更换透镜,无需使用标准样校准,量程范围达到0.02微米至2200微米
◆ 采用全息信号同步处理技术,实时测量速度最高达每秒20000次,不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息
◆ 采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统,彻底克服了氦氖气体激光器预热时间长,使用寿命短的缺点
◆ 采用偏振空间滤波技术,彻底摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器
 

项目

 

指标

     

测量原理

 

激光衍射

光学模型

 

全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选

粒径范围

 

0.02μm-2200μm,无需更换透镜,不依赖标样校准

检测系统

 

包含格栅式超大角度,非均匀交叉面积补偿检测器阵列及高灵敏度后向散射检测单元

进样方式  

湿法分散进样系统:支持SOP一键操作测量,可兼容有机及水相分散介质,样品池容量最大1000毫升,液位连续可调。样品搅拌和循环双电机设计和独立控制,转速0-2500RPM连续可调。内置大功率探头式超声分散系统,分散功率连续可调,支持气泡自动消除技术。(选配Hydrolink进样系统时)

*干法分散进样系统:支持SOP一键操作测量,分散压力0-4.5Bar连续可调,气流压力控制精度±0.1Bar(选配Aerolink进样系统时)

测量池

光源

 

平行斜置

集成恒温系统的638nm,最高20mW固体激光器

空间滤波方式

 

非针孔式偏振滤波技术

光学对中系统

 

智能全自动

测量时间

 

典型值小于10

测量速度

 

最高可达20000/

准确度

 

Dv50优于±0.6% NIST可溯源乳胶标样)

重复性

 

Dv50优于±0.5% NIST可溯源乳胶标样)

激光安全

 

1类激光产品

     

计算机配置

 

Intel i5处理器,4GB内存,250GB硬盘,鼠标,键盘和宽屏显示器

计算机接口

 

USB2.0或以上

软件运行平台

 

Windows7或以上专业版

操作环境温度

 

5-40

操作环境湿度

 

10%-85%相对湿度(无结凝)

电源要求

 

交流220V50Hz-60Hz,标准接地

     

光学系统重量

 

31kg

光学系统尺寸

 

670mm x 275mm x 320mm

*用户根据实际样品分散需要,可选配对应的分散进样系统

 

 
 
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