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E3-3D 三维定位镀层测厚仪器

E3-3D 三维定位镀层测厚仪器 镀层测厚仪、ROHS检测仪

  • 简介:1.1全自动三维样品台 1.2 X射线向下照射式,激光对焦 1.3小光斑设计 1.4测试时间灵活性调节 1.5多规格样品仓 1.6 X-Ray探测器 HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,
产品详细

1.1全自动三维样品台
 
 
 
1.2 X射线向下照射式,激光对焦
 
 
 
1.3小光斑设计
 
 
 
 
1.4测试时间灵活性调节
 
 
 
 
1.5多规格样品仓
 
 
 
 
1.6 X-Ray探测器
 
HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器。
 


探测器
 
● 类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)
 
● Be窗厚度:1mil
 
● 晶体面积:25mm2
 
● 最佳分辨率:145eV
 
●信号处理系统:DP5
 
 
 
X射线管
 
●电压:0-50v
 
●最大电流;2mA
 
●最大功率:50W
 
●靶材:Mo
 
●Be窗厚度:0.2mm
 
●使用寿命:大于2w小时
 
 
 
高压电源
 
●输出电压:0-50Kv
 
●灯丝电流0-2mA
 
●最大功率:50w
 
●纹波系数:0.1%(p-p值)
 
●8小时稳定性:0.05%
 
 
 
摄像头
 
●焦距:微焦距
 
●驱动:免驱动
 
●像素:800万像素
 
 
 
准直器、滤光片
 
●系统:快拆卸准直器、滤光片系统
 
●材质:多种材质准直器
 
●光斑:光斑大小Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选
 
 
 
十字激光头
 
●光斑形状:十字线
 
●输出波长:红光650nm
 
●光学透镜:玻璃透镜
 
●尺寸:Φ10×30mm
 
●发散角度:0.1-2mrad
 
●工作电压:DC 5V
 
●输出功率:<5mW
 
●工作温度:-10~50℃
 
 
 
其它配件
 
●开关电源:进口高性能开关电源
 
●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇
● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)
 
● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)
 
● 仪器重量:50kg
 
● 供电电源:AC220V/ 50Hz
 
● 最大功率:330W
 
● 工作温度:15-30℃
 
● 相对湿度:≤85%,不结露
● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。
 
● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。
 
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